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西電團(tuán)隊(duì)攻克芯片散熱世界難題:界面熱阻降至原先三分之一

發(fā)布時間:2026-01-15 09:50

1月15日消息,據(jù)媒體報道,西安電子科技大學(xué)郝躍院士團(tuán)隊(duì)在半導(dǎo)體材料領(lǐng)域取得關(guān)鍵突破,成功解決了困擾業(yè)界二十年的芯片散熱與性能瓶頸問題。相關(guān)成果已發(fā)表于國際頂級期刊《自然·通訊》與《科學(xué)·進(jìn)展》。

該研究的核心在于改善半導(dǎo)體材料層間的界面質(zhì)量,特別是第三代半導(dǎo)體氮化鎵與第四代半導(dǎo)體氧化鎵之間的高效集成。

傳統(tǒng)方法采用氮化鋁作為中間層,但其在生長過程中會自發(fā)形成粗糙、不規(guī)則的“島嶼”結(jié)構(gòu),這一自2014年諾貝爾獎相關(guān)成果以來始終未能根本解決的難題,嚴(yán)重制約了射頻芯片功率的提升。

研究團(tuán)隊(duì)通過創(chuàng)新性地在高能離子注入技術(shù),使晶體成核層表面變得平整光滑,從而將界面的熱阻降低至原先的三分之一,有效解決了高功率半導(dǎo)體芯片的共性散熱問題。

基于此項(xiàng)突破,團(tuán)隊(duì)研制出的氮化鎵微波功率器件,其單位面積功率較當(dāng)前市面上最先進(jìn)的同類器件提升了30%至40%。

據(jù)團(tuán)隊(duì)成員周弘教授介紹,這項(xiàng)技術(shù)意味著未來探測設(shè)備的探測距離將顯著增加,通信基站則可實(shí)現(xiàn)更廣的信號覆蓋與更低的能耗。

對于普通用戶,該技術(shù)也有望逐步帶來體驗(yàn)升級。周弘指出:“未來若在手機(jī)中應(yīng)用此類芯片,在偏遠(yuǎn)地區(qū)的信號接收能力會更強(qiáng),續(xù)航時間也可能延長?!眻F(tuán)隊(duì)目前正進(jìn)一步研究將金剛石等超高熱導(dǎo)材料應(yīng)用于半導(dǎo)體,如能攻克相關(guān)技術(shù),半導(dǎo)體器件的功率處理能力有望再提升一個數(shù)量級,達(dá)到當(dāng)前水平的十倍甚至更高。

這項(xiàng)突破不僅打破了長期存在的技術(shù)瓶頸,也為未來半導(dǎo)體器件向更高功率、更高效率發(fā)展奠定了關(guān)鍵基礎(chǔ)。

西電團(tuán)隊(duì)攻克芯片散熱世界難題:界面熱阻降至原先三分之一

來源︱快科技
編輯︱楊舟